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更新時(shí)間:2025-08-26NY-103低對(duì)比度檢測(cè)模體
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
NY-103低對(duì)比度檢測(cè)模體
2.低對(duì)比度檢測(cè)模體用于檢測(cè)X光機(jī)和tou視機(jī)的低對(duì)比分辨力。
3.包括一塊18cm X 18cm X 0.8mm鋁板,兩塊18cm X 18cm X 2cm鋁板。
NY-103低對(duì)比度檢測(cè)模體
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NY-103低對(duì)比度檢測(cè)模體
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3.包括一塊18cm X 18cm X 0.8mm鋁板,兩塊18cm X 18cm X 2cm鋁板。
NY-103低對(duì)比度檢測(cè)模體
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NY-103低對(duì)比度檢測(cè)模體
2.低對(duì)比度檢測(cè)模體用于檢測(cè)X光機(jī)和tou視機(jī)的低對(duì)比分辨力。
3.包括一塊18cm X 18cm X 0.8mm鋁板,兩塊18cm X 18cm X 2cm鋁板。
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